Nebula PCM-Testa Sistemo por Poŝtelefono kaj Cifereca Produkta Li-jona Baterio

Rapida elprovilo por baza kaj protekta trajtotestado de PCM kun 1 drata solvo en 1S & 2S Li-jona baterio.


Produkta Detalo

Superrigardo :

Rapida elprovilo por baza kaj protekta trajtotestado de PCM kun 1 drata solvo en 1S & 2S Li-jona baterio

Apliko:

La aplikebla IC inkluzivas la seriojn mastrumajn ICojn de TI Corporation (kiel BQ27742, BQ277410, BQ28z610, BQ27541, BQ27545, BQ2753X).

Sistemaj trajtoj :

• Subtenu diversajn gasmezurilojn, rapidan teston kaj altan precizecon ;

 Sendependaj kanaloj kaj modula projektado faciligas prizorgi sofistikan datuman raportan funkcion

 Samtempa testado por ĉiu sendependa kanalo: supera testrapideco ;

 Alta precizeco ;

 Ĉiuj testodatenoj estas alŝutitaj sur stokitaj en la servila datumbazo kun serĉa kaj spura funkcio

Testobjektoj :

Provo de Senmova Nuna Konsumo

Rezista Testo

Kapaciteca Mezurado

Plurnivela Protekta Funkcia Testo

Protekta Punkto kaj Tempo-Kaptado

Gasmezurilo IC-fulmado kaj kalibrado

Kongrua kun HDQ, I2C, SMBus-Komunikadaj Protokoloj

Agordebla Elektra nivelo kaj Ofteco

Specifoj:

Indekso Gamo Precizeco
Analoga bateria eliga tensio 50 ~ 2000mV ± (0,01% R.D + 0.01% FS)
2000 ~ 5000mV ± (0,02% R.D + 0.01% FS)
Konstanta nuna fonta eliga kurento 30A ~ 50A Elŝuta tempo: 20mS
20A ~ 30A ± 30mA
3A ~ 20A ± 10mA
20mA ~ 3000mA ± (0,01% R.D + 0.02% FS)
Kapaciteca mezurado 200nf ~ 2000nf ± (10% RD + 10nF)
Mezurado de Nuna Konsumo mA Nivelo) 0 ~ 3000mA ± 0,01% R.D + 0.02% FS
uA Nivelo) 1-2000uA ± 0,01% R.D + 1uA
nA Nivelo) 20-1000nA ± 0,01% RD + 20nA

  • Antaŭa:
  • Sekva:

  • Skribu vian mesaĝon ĉi tie kaj sendu ĝin al ni