Nebula PCM-Testa Sistemo por Poŝtelefono kaj Cifereca Produkta Li-jona Baterio
Superrigardo ：
Rapida elprovilo por baza kaj protekta trajtotestado de PCM kun 1 drata solvo en 1S & 2S Li-jona baterio
Apliko:
La aplikebla IC inkluzivas la seriojn mastrumajn ICojn de TI Corporation (kiel BQ27742, BQ277410, BQ28z610, BQ27541, BQ27545, BQ2753X).
Sistemaj trajtoj ：
• Subtenu diversajn gasmezurilojn, rapidan teston kaj altan precizecon ；
• Sendependaj kanaloj kaj modula projektado faciligas prizorgi sofistikan datuman raportan funkcion
• Samtempa testado por ĉiu sendependa kanalo: supera testrapideco ；
• Alta precizeco ；
• Ĉiuj testodatenoj estas alŝutitaj sur stokitaj en la servila datumbazo kun serĉa kaj spura funkcio
Testobjektoj ：
Provo de Senmova Nuna Konsumo
Rezista Testo
Kapaciteca Mezurado
Plurnivela Protekta Funkcia Testo
Protekta Punkto kaj Tempo-Kaptado
Gasmezurilo IC-fulmado kaj kalibrado
Kongrua kun HDQ, I2C, SMBus-Komunikadaj Protokoloj
Agordebla Elektra nivelo kaj Ofteco
Specifoj:
| Indekso | Gamo | Precizeco |
| Analoga bateria eliga tensio | 50 ~ 2000mV | ± (0,01% R.D + 0.01% FS) |
| 2000 ~ 5000mV | ± (0,02% R.D + 0.01% FS) | |
| Konstanta nuna fonta eliga kurento | 30A ~ 50A | Elŝuta tempo: 20mS |
| 20A ~ 30A | ± 30mA | |
| 3A ~ 20A | ± 10mA | |
| 20mA ~ 3000mA | ± (0,01% R.D + 0.02% FS) | |
| Kapaciteca mezurado | 200nf ~ 2000nf | ± （10% RD + 10nF） |
| Mezurado de Nuna Konsumo | （mA Nivelo) 0 ~ 3000mA | ± 0,01% R.D + 0.02% FS |
| （uA Nivelo） 1-2000uA | ± 0,01% R.D + 1uA | |
| （nA Nivelo） 20-1000nA | ± 0,01% RD + 20nA |
